令和6年10月29日
科学技術振興機構(JST)
株式会社岡本工作機械製作所
シリコンと銅を同時に研削する全自動装置の開発に成功
~ビアミドルSi貫通電極を用いた3次元実装技術の普及を後押し~
ポスト
ポイント
- 半導体回路の性能向上を図る方法の1つとして、回路を平面ではなく立体に集積する「3次元実装技術」が注目されているが、コストの問題や歩留まり(良品率)の低さが制約となり、一部の高機能デバイスでしか実用化されていなかった。
- 本開発では、シリコン(Si)ウェーハ裏面からSi貫通電極を露出させる全自動研削装置を開発し、歩留まり低下の要因であるSi貫通電極の長さのばらつきを低減するとともに、Siと金属部の銅(Cu)の安定的な同時研削を実現した。また、ウェーハ上の残留Cu除去にも成功した。
- 本装置により、Si貫通電極形成プロセスが効率化され、接続電極を用いない直接積層が可能となったことで、さまざまなデバイスへの応用と半導体回路の高性能化が期待される。
JST(理事長 橋本 和仁)は、研究成果最適展開支援プログラム(A-STEP) NexTEP-Aタイプの開発課題「Si貫通電極ウェーハ全自動研削装置」の開発結果を成功と認定しました。この開発課題は、産業技術総合研究所 先端半導体研究センター 渡辺 直也 主任研究員の研究成果を基に、JSTが支援し、平成28年10月から令和6年7月にかけて株式会社岡本工作機械製作所(本社:群馬県安中市、代表者:代表取締役社長 石井 常路)において実用化開発を進めていたものです。
本開発ではSiウェーハの裏面からSi貫通電極を露出させるための研削加工を可能とする「Si貫通電極ウェーハ全自動研削装置」を開発しました。この装置では、多くの気孔があり目詰まりしにくい研削砥石(といし)、ウェーハの厚み自動補正機能などにより、Si貫通電極の長さのばらつきを極限まで小さくし、SiとCuの安定的かつ精緻な同時研削を実現しました。また、研削加工後のウェーハをアルカリイオン水洗浄、無電解めっきおよびSiウエットエッチングにより処理することで、Si上の残留Cuを除去することにも成功しました。これにより、Si貫通電極部分からのCuの溶け出しを防止しつつ、Siウェーハ上の残留Cuを、一般的な金属濃度以下まで除去することができました。
本装置によって、Si貫通電極形成プロセスが効率化されるとともに、ウェーハレベルでの直接積層(バンプを用いない積層)が可能になり、その結果、Si貫通電極形成プロセスの低コスト化と歩留まりの向上が実現できると考えられます。今後はデバイスメーカーとの協業を通じて、さまざまなデバイスへの適用と半導体回路の高性能化が期待されます。
本成果は、以下の事業・研究領域・研究課題によって得られました。
事業名 | 研究成果最適展開支援プログラム(A-STEP) NexTEP-Aタイプ |
開発課題名 | Si貫通電極ウェーハ全自動研削装置 |
開発実施企業 | 株式会社岡本工作機械製作所 |
研究代表者 | 渡辺 直也 産業技術総合研究所 先端半導体研究センター 主任研究員 |
研究期間 | 平成28年10月~令和6年7月 |
上記研究課題では、Si貫通電極ウェーハ全自動研削装置の開発・製品化を目的としています。
<プレスリリース資料>
<お問い合わせ先>
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<開発に関すること>
株式会社岡本工作機械製作所
技術開発本部 ナノプロセス技術部 要素プロセス開発課
〒379-0135 群馬県安中市郷原2993
Tel:027-385-5155 Fax:027-385-4053
E-mail:techokamoto.co.jp
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<JST事業に関すること>
下田 修(シモダ オサム)
科学技術振興機構 スタートアップ・技術移転推進部 実装支援グループ
〒102-0076 東京都千代田区五番町7 K’s五番町
Tel:03-5214-8995 Fax:03-5214-0017
E-mail:jitsuyokajst.go.jp
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<報道担当>
科学技術振興機構 広報課
〒102-8666 東京都千代田区四番町5番地3
Tel:03-5214-8404 Fax:03-5214-8432
E-mail:jstkohojst.go.jp
株式会社岡本工作機械製作所 総務部
〒379-0135 群馬県安中市郷原2993
Tel:027-385-5800 Fax:027-385-5880
E-mail:prokamoto.co.jp
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